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86-512-80816058儀器原理:
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點,將來自試樣的熒光X射線依次檢測,得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計脈沖數(shù),脈沖幅度可以用X光子的能量標度,從而得到計數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線,即X光能譜圖。
產品特點:
1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器,分辨率高,探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2. 配置國際最先進的DPP數(shù)字多道信號集成處理器,比普通模擬多道信號處理器性能更佳,尤其在高計數(shù)率時有更好的分辨力(如Hg和Cl等),高達80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時間更短,測量重復性和長期穩(wěn)定性更好。
3. 內置高清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準確定位樣品測試區(qū)域。
4. 配套最新的FP測量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測結果
編 號 | 產 品 規(guī) 格 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | 元素分析范圍硫(S)-鈾(U)任意元素 可分析銅合金、鐵合金、鋅合金、錫鉛合金、貴金屬分析等。 定量測試ROHS和鹵素中的 鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、多溴聯(lián)苯(PBB)和多溴聯(lián)苯醚(PBDE)中的總溴,鹵素中的溴(Br)、氯(Cl)。 可以分析最多5層鍍層,一次可分析元素多達24種 |
工作條件 | 工作溫度:18-22℃ |
| 相對濕度:40%-60% |
| 電 源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
| 測定條件:大氣環(huán)境 |